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高性能霍爾效應測量系統，采用納米技術方法開發的材料用于芯片技術的發展、太陽能電池的開發、材料科學的發展、空間技術、國防工業的發展。

緊湊型霍爾效應測量系統具有集成的硬件和軟件系統，旨在測量和分析樣品的電子特性，是霍爾效應測量系統的便攜版本，在全球范圍內使用。

NMI-VSM 振動樣品磁強計結合了高靈敏度 （5e-7 emu）、出色的可重復性和簡單操作，具有符合人體工程學的設計和軟件，便于研究人員使用。

大氣環境光電子發射光譜，使用可調波長的深紫外光源，能量輸出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下數據。

掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。

深能級瞬態譜儀應用領域 :檢測Si、ZnO、GaN等半導體材料中微量雜質、缺陷的深能級及界面態。

半自動劃片機/切片機（6英寸）-半導體材料 適用于 6 英寸晶圓– 6 英寸硅晶圓 – 緊湊尺寸的占地面積（寬 x 深 = 590 x 880） – 多處安裝劃片 可劃片的樣品： 硅晶圓， PCB， QFN， PBGA， 陶瓷， 石英玻璃， LED，移動式藍色玻璃濾光片、碳化硅等

半自動劃片機（8英寸，12英寸）-半導體材料 – 最大 16 英寸 – 重復精度（Y 軸） ： 0.001 – 可選 3 英寸刀片、BBD（刀片斷裂檢測儀）、NCS（非接觸式傳感器） – 真空卡盤：6~12英寸