
校正晶圓標(biāo)準(zhǔn)片,用于Tencror Sufscan ,Hitach 和KLA-Tencor等設(shè)備的校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)片和絕對校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。
科學(xué)級—開爾文探針可以精確測量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù),具有較高的精度和準(zhǔn)確性。
強(qiáng)度調(diào)制光電流和光電壓光譜系統(tǒng),與使用 IUPAC(逆符號)約定的恒電位測量(世界上所有恒電位儀采用)相比,當(dāng)前假設(shè)的符號約定是正常的。
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